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最近の膜厚計の進歩を受けて、2014年に膜厚に関する規定が JIS K5600-1-7:2014 として改訂されました。電磁膜厚計では磁気誘導方式が示され、これまでの「試験場所に装置(＝膜厚計)を作動させるたびに、また、使用中頻繁に(少なくても１時間に１回)適切に作動していることを確認するため装置の校正を行なうものとする」という電磁膜厚計の宿命であった先端摩耗による精度劣化を前提とする記述はなくなりました。これは磁気誘導方式の誕生により、先端摩耗の問題が解消されたことを示唆しています。
また、手順の項では『使用前に製造業者の指示に基づいて、各装置は適切な校正用標準(フォイルなど)を用いて校正しなければならない』という記述もなくなりました。これは検量線が複雑な曲線から直線的になったことを示唆しています。単純に「表示から直接厚さを読むか、または製造業者の取扱説明書に従って膜厚を計算する」という簡素な内容に改定されました。
さらに、附属書Cには、フォトサーマル方式がこれに該当する『熱的性質を利用する方法』が示されています。
新しくなったJIS規定や測定方法などを念頭に、ご質問に回答をさせていただきたいめ、お答えするのに少し時間的な猶予をお願いしております。
お手数をおかけし恐縮ですが、お問い合わせフォームを使って、ご質問内容をお聞かせいただけますか？ よろしくお願いいたします。
なお、各モデルの違いは、本ページ下方の『ご参考までに各測定方法の特徴を簡単にご説明します』も参照いただけると幸いです。
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最近の膜厚計の進歩を受けて、2014年に膜厚に関する規定が JIS K5600-1-7:2014 として改訂されました。示されている測定方法も新しくなるとともに、種類もたいへん多くなりました。
適切なご案内を差し上げるようにするため、お手数をおかけし恐縮ですが、見積書ご依頼フォームを使って、ご要望のモデルなどを聞かせいただけますか？ よろしくお願いいたします。
膜厚計の種類によりご記入シートが異なります。膜厚計の種類を以下のボタンよりご選択ください。
なお、各モデルの違いは、本ページ下方の『ご参考までに各測定方法の特徴を簡単にご説明します』も参照いただけると幸いです。
ご質問や見積のご依頼内容をお聞きする前に各測定方法の特徴を簡単にご説明します
JIS K5600-1-7 測定法7C 磁気誘導電磁膜厚計
ポジテクター6000シリーズのF(磁性用)プローブおよびポジテストDFTのFモードがこれに該当します。
ポジテクター6000はプローブを用途により交換可能な高性能モデルです。
ポジテストDFTはコストパフォーマンスに優れた小型膜厚計ですが、プローブの交換やメモリー機能はなく、測定精度は+(2 µm + 3%)です。突起部、Rのきつい曲面、狭小な部位の測定には不向きです。
旧JISに規定されていた、電磁誘導方式には必須であった「試験場所に装置(＝膜厚計)を作動させるたびに、また、使用中頻繁に(少なくても１時間に１回)適切に作動していることを確認するため装置の校正を行なうものとする」も『使用前に製造業者の指示に基づいて、各装置は適切な校正用標準(フォイルなど)を用いて校正しなければならない』も新JISに従って、必須ではなくなり取扱説明書に従う簡単なものになりました。
測定対象となる膜は、鉄・鋼上の非磁性膜です。例えば鉄素地上の、樹脂塗膜、インキ、アルミや亜鉛溶射皮膜、ほうろう、亜鉛メッキ※、無電解ニッケルメッキ(電解は不可)などです。
いわゆる亜鉛どぶづけメッキは、亜鉛層と鉄素地との界面に亜鉛と鉄の合金層が生じます。この合金層は磁性を持つ部分があり、素地とみなされます。重量法による計算より薄い測定結果となります。
測定精度は標準的なプローブで±(1μm＋1％)、マイクロプローブで±(0.5μm＋1％)です。例えば10μmの塗膜であれば、標準的なプローブで±1.1μm(±11％)、マイクロプローブで±0.6μm(±6％)の誤差が想定されます。5μmの塗膜では誤差が標準プローブで±21％、マイクロプローブで±11％の誤差が想定されますので、薄膜ほど不利になります。
JIS K5600-1-7 測定法7D 渦電流膜厚計
ポジテクター6000シリーズのN(非磁性)プローブおよびポジテストDFTのNモードがこれに該当します。
ポジテクター6000はプローブを用途により交換可能な高性能モデルです。
ポジテストDFTはコストパフォーマンスに優れた小型膜厚計ですが、プローブの交換やメモリー機能はなく、測定精度は+(2 µm + 3%)です。突起部、Rのきつい曲面、狭小な部位の測定には不向きです。
測定対象となる膜は、鉄・鋼上の非磁性膜です。例えば鉄素地上の、樹脂塗膜、インキ、アルミや亜鉛溶射皮膜、ほうろう、亜鉛メッキ※、無電解ニッケルメッキ(電解は不可)などです。
非磁性金属素地上の絶縁性皮膜の測定に用います。
基材としてはアルミやステンレス※が代表的なものとなります。ステンレス上のクロムメッキやニッケルメッキ(電解・無電解)は測定できません。
フェライト系ステンレス：磁石がくっつくステンレス(18Cr系で430や405が代表例です)は、磁性を持つため磁気誘導式で測定してください。またオーステナイト系ステンレス(18-8系で304や316、316Lなどが代表例)でも表面を研磨したり叩いたり、延ばしたりすると、オーステナイト層が変態し、マルテンサイトを含む2層組織化することが知られています。これらは磁性を帯びることがあり、その磁性は安定しないため、これらの部位は避けて測定ください。
測定精度は標準的なプローブで±(1μm＋1％)、マイクロプローブで±(0.5μm＋1％)です。例えば10μmの塗膜であれば、標準的なプローブで±1.1μm(±11％)、マイクロプローブで±0.6μm(±6％)の誤差が想定されます。５μmの塗膜では誤差が標準プローブで±21％、マイクロプローブで±11％の誤差が想定されますので、薄膜ほど不利になります。
JIS K5600-1-7 測定法7A 磁気プルオフ膜厚計
ポジテストがこれに該当します。測定対象となる膜は、鉄・鋼上の非磁性膜です。
目盛りをご自身で読み取るアナログ式ですが、電気を使用しないため、例えば防爆性が要求される場所でも使用されています。
測定精度は0～200μmの測定範囲のタイプで20μmまでは±1％、それ以上は読取値の±5％となっています。
JIS K5600-1-7 測定法10 超音波膜厚計
ポジテクター200がこれに該当します。多層膜の場合、測定条件が良ければ３層までそれぞれの膜厚がわかります。
測定対象となる膜は、樹脂、ガラス、木材、コンクリート上の樹脂塗膜です。なお、13μm以下の膜厚の場合は測定できません。
金属素地上の樹脂膜の厚みも測定はできますが、磁気誘導膜厚計や渦電流膜厚計に比べると信頼性が劣りますので、これらの膜厚計の代替としてはお勧めできません。
測定の可否は、素地と塗膜、もしくは多層膜のそれぞれの素材の密度の差が明瞭であるかどうか、境界面が平らであるかどうかにかかっています。したがって、机上で測定の可否を判断することは難しく、Try & Rent をご利用いただきお試しいただくことを強くお勧めしています。
また、例えば２コート２ベーク(塗装→加熱乾燥→塗装→加熱乾燥)していたときには測定できていたものが、２コート１ベーク(塗装→Wet on Wet でまた塗装→加熱乾燥)に変えたら測定できなくなったというケースもありますので、ご留意ください。
お問い合わせの際には、必ず素地と塗膜の材質および膜厚を教えてください。
JIS K5600-1-7 附属書C 熱的性質を利用する方法
原理としては、Powder TAG がこれに該当しますが、粉体塗装の硬化前専用です。非接触での測定が可能ですが、液状塗料には適用できません。また、硬化後の膜厚については、測定がとても不安定になります。測定できたとしても品質管理用として適用できるレベルではありません。
塗料の種類、特に色や表面の反射状態に精度が依存するため、Try & Rent を利用してお試しになられることをお勧めしています。なお、ご希望が多数寄せられているため、具体的にご予算が確保されているお客様を優先にさせていただいております。
なお、超音波式のポジテクターPC(パウダーチェッカー)も粉体塗装の硬化前の厚みを非接触で測定することができます。ただし、超音波を近接から当てて、素地と塗膜表面からの反射波を測定するため、正しい測定結果を得るためには、製品は静止した状態で、素地は完全にフラットなもの(平板形状)であることが原則となります。
JIS K5600-1-7 測定法4B デプスゲージ法
破壊式測定法となります。TQC ドライフィルムゲージがこれに該当します。
JIS K5600-1-7 測定法6B くさび形切削法
破壊式測定法となります。TQC スーパーPIG(ペイントインスペクションゲージ)がこれに該当します。
JIS K5600-1-7 ぬれ膜厚の測定 測定法1A くし形ゲージ
液状塗料のウェット膜厚(ぬれ膜厚)を測定する方法です。TQC くし形ウェットフィルム膜厚計がこれに該当します。
JIS K5600-1-7 ぬれ膜厚の測定 測定法1B ロータリ形ゲージ
液状塗料のウェット膜厚(ぬれ膜厚)を測定する方法です。TQC ロータリ形ウェットフィルム膜厚計がこれに該当します。
