TQC Sheen グラインドメーター(粒ゲージ) ワイドシングル溝タイプ
準拠規格
ISO 1524, JIS K 5600-2-5
ASTM D 1210, AS/NZS 1580.204.1
よくあるご質問：粒ゲージで粒子そのものの粒径がわかりますか？
難しいと思います。粒ゲージは塗料及びその関連商品の分散度を測定するもので、粒そのものの大きさを知るためのものではありません。
特徴
- ● ミクロン、NS(Hegman)の目盛がゲージの上面に刻まれています。
- ● 溝の幅はいずれも37mmです(標準モデルは12mm)。
- ● ゲージとスクレーパーは硬質ステンレス製です。
使用方法(例)
ご注文＆価格のお問い合わせは…
| モデル名称 | 溝深さ μm |
目盛間隔 μm |
推奨測定範囲※1 μm |
Hegman※2 (NS) |
溝幅 | 商品コードNo. |
|---|---|---|---|---|---|---|
| TQC Sheen グラインドゲージ (粒ゲージ) ワイドシングル溝タイプ |
0～15μm | 1.5μm | 1.5～12μm | 8～6.8 | 37mm | KT-VF2120 |
| 0～25μm | 2.5μm | 5～15μm | 8～6 | 37mm | KT-VF2121 | |
| 0～50μm | 5μm | 15～40μm | 8～4 | 37mm | KT-VF2122 | |
| 0～100μm | 10μm | 40～90μm | 8～0 | 37mm | KT-VF2123 | |
| 0~250μm | 25μm | ー | ー | 37mm | KT-VF2125 | |
| 任意ご指定※3 0~5,000μm |
ー | ー | ー | 37mm | KT-VF2142 |
大きさと重さ：175×60×12mm(溝の長さ：120mm) スクレーパー：75×38×8mm
精度：2μm
- 推奨測定範囲はJIS/ISOの記述によるものです。
- Hegman、North尺度について：JISにも記載されているように、国際的に使用されているものではなく、いくつかの国で工業的に非SI単位として慣用的に用いられているものです。例えばHegman尺度は100μmを0点としています。JIS/ISOはあくまでμm単位を採用しています。
- 任意ご指定品について…準特注品となります。標準設計(外形や溝幅などは標準品と同じです)のままで、最大値は5,000μmまでご指定が可能です。
校正証明書
| 購入時に添付 | 別途費用で添付 | |
|---|---|---|
| 校正証明書/Certificate of Calibration | ○ | ― |
| 検査成績書/Certificate of Test | ― | ― |
| 継続使用メーカー校正 | ○ |
溝深さの検査
- ◆JISでは溝深さの定期的検査を求めています。
ご注意ください。
JISでは『長い時間使用するとゲージ表面は摩耗し、有効な溝深さが変化する。したがって、溝の深さは定期的に検査しなければならない』として、ダイヤルゲージとそれを正確に粒ゲージ表面に当てるためのダイヤルゲージ取付ブロックを用いて検査する手順を指示しています。
溝深さの検査を承っております。ご相談ください。
| 対象粒ゲージ | 溝深さ検査コードNo. |
|---|---|
| 0～15μm用 | KU-GRINDKENSA-15W |
| 0～25μm用 | KU-GRINDKENSA-25W |
| 0～50μm用 | KU-GRINDKENSA-50W |
| 0～100μm用 | KU-GRINDKENSA-100W |
校正検査および再校正検査について
現在多くの塗料メーカー・塗工材メーカーが粒ゲージの検査に求める精度は高度化しています。JISで示された方法ではこれらのご要望にお応えできなくなっております。また、その後の技術革新により計測方法もずっと優れたハイテク方法が誕生しています。そのため、技術革新の成果を導入し、お客様のご要望にお応えするようにしております。
メーカーの工場出荷時の校正検査も、計測使用の再校正検査も現在はこのハイテク方法が導入されています。
＜研磨による再生について＞
なお、再研磨は現在の新品の粒ゲージの価格に比して高価で、また削ることにより目盛の刻印と微妙なずれが生じてまいります。
粒ゲージ自体がたいへん高価であった時期においては再研磨は現実的な対処方法でしたが、現在ではお勧めはしておりません。
